iTrace yhdistää wavefront-aberrometrin ja sarveiskalvotopografian tuottaen ainutlaatuisen analyysin silmän taittovirheistä eli aberraatioista.
iTrace
iTrace yhdistää wavefront-aberrometrin ja sarveiskalvotopografian tuottaen ainutlaatuisen analyysin silmän taittovirheistä eli aberraatioista. Laitteella voi tutkia aiheutuvatko aberraatiot sarveiskalvosta vai silmän sisäisestä optiikasta. Oikean diagnoosin avulla voit valita oikean hoidon. Laite toimii myös erinomaisena apuna taittovirheiden havainnollistamisessa asiakkaalle.
Ominaisuudet
- Placido-topografia sarveiskalvon muodon mittaamiseen: sarveiskalvon kaarevuus-, korkeus- ja refraktiokartat ja zerniken-analyysi (korkeamman asteen taittovirheet)
- Ainutlaatuinen ray tracing -wavefront-aberrometri, joka mittaa taittovirheet sarveiskalvolta verkkokalvolle. Sfäärisen (hyperopia, myopia) taittovirheen ja hajataitteisuuden (astigmatia) lisäksi aberrometri mittaa myös korkeamman asteen taittovirheet eli aberraatiot.
- Yömyopian mittaus
- Verkkokalvolta heijastettujen lasersäteiden intensiteetistä voi päätellä optiikan kirkkauden, mikä auttaa kaihidiagnostiikassa.
- "Visual function analyzer" havainnollistaa, kuinka potilas näkee E-kirjaimen päivänvalossa ja pimeässä.
- Wavefront-perusteinen autorefraktometri
- Topografia-perusteinen autokeratometri
- Pupillometria